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打造先進(jìn)集成電路實驗室,SEMISHARE為高校半導(dǎo)體人才教育賦能

發(fā)布時間:2021-05-28來源: semishare

當(dāng)下,集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展水平已成為衡量一個國家綜合實力的重要標(biāo)志。目前我國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)雖已進(jìn)入快車道發(fā)展時期,但因受制技術(shù)人才的短缺,成為了制約我國走向半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)規(guī)?;l(fā)展的瓶頸。如果把中國各大院校半導(dǎo)體相關(guān)專業(yè)畢業(yè)生和各大公司獨立培養(yǎng)的人才數(shù)量累加,中國自己培養(yǎng)的半導(dǎo)體人才每年僅萬人量級;

近年國家對集成電路的高校教育越來越重視,從長遠(yuǎn)發(fā)展來看,只有不斷加強(qiáng)高校教育的基礎(chǔ)建設(shè),實現(xiàn)專業(yè)人才的專項培養(yǎng)與儲備輸出,才能更滿足國家集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展對高素質(zhì)人才的迫切需求。在半導(dǎo)體的高校教育中,除了扎實的理論知識外,還要結(jié)合實驗來進(jìn)行驗證,坐而論道不如起而行之,當(dāng)前各高校都在積極建立自有的集成電路/微電子實驗室,逐步打造產(chǎn)學(xué)研一體化的實踐教學(xué)平臺。

在大學(xué)實驗室的建立改造與硬件設(shè)施的升級中,手動探針臺已成為實驗室里的必要測試設(shè)備。高校老師們在選擇探針臺設(shè)備時,不僅要在預(yù)算有限的前提下,需要考慮使用高測試精度標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備,同時也要顧及設(shè)備今后的重復(fù)利用率,避免教育資源成本的浪費。總結(jié)采購教育實驗的探針臺設(shè)備主要有如下要求:

1、合理性

基于大學(xué)實驗室環(huán)境要求,設(shè)備在保證高精度測試的前提下,節(jié)省設(shè)備占有空間;
不降底專業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量前提下,提供更具有價格競爭力的探針臺設(shè)備。

2、專業(yè)性

操作更簡單方便,最大限度減少使用操作培訓(xùn)工作時間

性能穩(wěn)定,測試精度高

可快速獲取測量數(shù)據(jù)

3、靈活性

應(yīng)用性強(qiáng),根據(jù)不同的測試需求任意搭載測試模塊;
功能性高,當(dāng)需求提高和增加時,可重新進(jìn)行設(shè)備升級和功能擴(kuò)展。

手動探針臺在高校實驗中常見的幾種測試應(yīng)用:

1、IV/CV直流測試

IV/CV直流測試包括:同軸(coaxial-直流參數(shù)測量,漏電低至PA級別、三軸(triaxial-直流參數(shù)測量,漏電低至FA級別/低噪聲

晶圓(IV、CV)測試廣泛用于測量半導(dǎo)體參數(shù),尤其是晶圓級MOSFET結(jié)構(gòu)等。此外利用IV、CV測量還可以對其它類型的半導(dǎo)體器件和工藝進(jìn)行特征分析,包括雙極結(jié)型晶體管BJT、JFET器件,光伏電池、MEMS器件、有機(jī)TFT顯示器、光電二極管、碳納米管和多種其它半導(dǎo)體器件。這類測試非常適用于各種器件性能的基礎(chǔ)分析,從而提高工藝和器件的性能,檢測工藝參數(shù)和失效分析機(jī)制等。

2、RF射頻測試

RF射頻測試包括67GHz射頻測試、毫米波(mmW-70GHzSub-THz和負(fù)載牽引測試、太赫茲(THz)和負(fù)載牽引測試。

RF射頻測試需求主要涵蓋RF功率及RF雜訊特性描述之大小訊號量測、S參數(shù)、訊號源、負(fù)載拉移阻抗匹配等 。由于晶圓級 RF 測試儀器(如:網(wǎng)路分析儀、升頻器、阻抗調(diào)諧器、合器、Bias-Ts 及許多其他系統(tǒng)元件)之架設(shè)整合具高復(fù)雜性及需求特殊性。因此這些應(yīng)用皆挑戰(zhàn)探針臺系統(tǒng)的機(jī)械穩(wěn)定性、最短傳輸路徑、量測最佳方向性、長時間于不同類型金屬待測物上重復(fù)且高一致性的點測能力、以及是否可精準(zhǔn)校正至待測物端之能力。

3、高功率/大電流測試

高功率分離式元件(例如功率電晶體、功率二極體、閘流體等且元件方向性為垂直/橫向者)或高功率放大器之電性量測皆屬高功率元件測試。以 500 V(高電壓)以上及/或 1 A(高電流)以上之脈沖或直流電進(jìn)行量測。高功率元件的晶圓特性描述應(yīng)用面臨以下挑戰(zhàn):晶圓載臺至晶圓背面之接觸電阻/高電流元件金屬墊層燒壞毀損/在高電壓及各溫度條件下進(jìn)行低漏電流量測/高電壓電弧/薄晶圓處理/安全的測試環(huán)境。

通過我們SEMISHARE在高校/實驗室多年積累的市場成功案例,綜合以上客戶需求我們推薦以下三款手動探針臺方案供客戶參考:

>M系列簡易小型探針臺

一款基于高校教育與實驗室的經(jīng)濟(jì)型晶圓測試探針臺,人體工程學(xué)設(shè)計操作簡單,緊湊的結(jié)構(gòu)設(shè)計大大降低了設(shè)備占有空間,在保證高精度測試的前提下,又極具性價比,如果您的測試PAD大于30um,M系列則是您在實驗室中的首選設(shè)備之一。

>E系列經(jīng)濟(jì)型探針臺

優(yōu)異的機(jī)械系統(tǒng),結(jié)構(gòu)性能穩(wěn)定,操作更便捷,同時支持多功能升級,產(chǎn)品功能更豐富。兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動;同軸驅(qū)動卡盤,移動精度高; 精密絲傳動結(jié)構(gòu),系統(tǒng)高精度運動。


>H系列綜合型探針臺

該設(shè)備具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可操作性,氣控式卡盤移動技術(shù)、靈活的UPStart模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計,實現(xiàn)一機(jī)多應(yīng)用、增強(qiáng)性防震系統(tǒng),設(shè)備可支持后期擴(kuò)展升級,滿足多種測試應(yīng)用需要,無論現(xiàn)在和將來當(dāng)測試需求提高或發(fā)生改變時,都可重新配置升級,該設(shè)備非常適合于研發(fā)中心和各大高校實驗室的一步性預(yù)算購置投入。


近幾年,SEMISAHRE通過與國內(nèi)各高校的緊密合作,以及在探針臺領(lǐng)域多年的自主創(chuàng)新技術(shù),我們?yōu)榭蛻籼峁┝酥T多的定制化測試解決方案。SEMISHARE科技致力于為高校客戶提供先進(jìn)穩(wěn)定可靠的測試教學(xué)方案,為未來國家培養(yǎng)輸送更多的創(chuàng)新研發(fā)性人才,共同提升中國半導(dǎo)體領(lǐng)域先進(jìn)的技術(shù)研發(fā)實力。





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