我們的網(wǎng)站使用由我們和第三方提供的 cookies。部分cookies是網(wǎng)站運(yùn)營(yíng)所必需的，而其他 cookies您可以隨時(shí)調(diào)整，特別是那些有助于我們了解網(wǎng)站性能、為您提供社交媒體功能、通過(guò)相關(guān)內(nèi)容為您帶來(lái)更好的體驗(yàn)和廣告宣傳的cookies...。
我接受
測(cè)試技術(shù)
晶圓IV/CV直流測(cè)試包括：同軸（coaxial）-直流參數(shù)測(cè)量，漏電低至PA級(jí)別、三軸（triaxial）-直流參數(shù)測(cè)量，漏電低至FA級(jí)別/低噪聲，IV、CV、P-IV測(cè)試廣泛用于測(cè)量半導(dǎo)體參數(shù),尤其是晶圓級(jí)MOSFET結(jié)構(gòu)等。此外利用IV、CV、P-IV測(cè)量還可以對(duì)其它類型的半導(dǎo)體器件和工藝進(jìn)行特征分析,包括雙極結(jié)型晶體管BJT、JFET器件,光伏電池、MEMS器件、有機(jī)TFT顯示器、光電二極管、碳納米管和多種其它半導(dǎo)體器件。這類測(cè)量的基本特征非常適用于各種應(yīng)用,提高工藝和器件的性能,檢測(cè)工藝參數(shù)和失效分析機(jī)制等。
近年我國(guó)對(duì)于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的重視和大力度的資源投入，其中大學(xué)實(shí)驗(yàn)室的硬件設(shè)施升級(jí)改造更新則更是重點(diǎn)投入之一，但因大學(xué)教育在資源投入配比上更多出于成本考慮，因此我們既要在預(yù)算有限的條件下，不僅要保證設(shè)備測(cè)試測(cè)量的高精度標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)也要考慮產(chǎn)品今后的重復(fù)利用率，避免資源浪費(fèi)。SEMISHARE通過(guò)多年在大學(xué)院校積累的市場(chǎng)及合作經(jīng)驗(yàn)，總結(jié)教育實(shí)驗(yàn)的探針臺(tái)設(shè)備應(yīng)有如下指標(biāo)：
● 基于大學(xué)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境要求，設(shè)備在保證高精度測(cè)試的前提下，節(jié)省設(shè)備占有空間
● 不降低專業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量前提下，提供更具有價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)力的探針臺(tái)設(shè)備
● 操作更簡(jiǎn)單方便
● 最大限度減少使用操作培訓(xùn)工作量
● 結(jié)構(gòu)穩(wěn)定，測(cè)試精度高
● 可快速獲取測(cè)量數(shù)據(jù)
● 可模塊定制，針對(duì)多種的應(yīng)用實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)易的重新配置和升級(jí)
● 適應(yīng)性強(qiáng)，當(dāng)需求提高和增加時(shí)，可重新進(jìn)行設(shè)備升級(jí)和功能擴(kuò)展
6inch晶圓i-v ，c-v曲線，P-iv 測(cè)試
40微米以上電極點(diǎn)測(cè)，10pA 以內(nèi)漏電精度
