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全自動四探針方塊電阻測試系統(tǒng)

產(chǎn)品概要

四探針方塊電阻測試系統(tǒng)是一種高精度的測量設(shè)備,具備可靠性好、操作簡便等優(yōu)點(diǎn),對于微電子器件的設(shè)計、生產(chǎn)和質(zhì)量控制具有重要意義。

基本信息

產(chǎn)品型號 SR8/SR12 工作環(huán)境 常高溫,屏蔽
電力需求 / 操控方式 全自動
產(chǎn)品尺寸 可定制 設(shè)備重量 可定制

應(yīng)用方向

半導(dǎo)體材料、太陽能電池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)、新材料、功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)、導(dǎo)電薄膜(金屬、ITO等)、硅相關(guān)薄膜(LTPS等)、擴(kuò)散層測試、其他(*詳情請與我們聯(lián)系)

技術(shù)特點(diǎn)

技術(shù)特點(diǎn)

●SR8兼容6/8寸晶圓,SR12兼容8/12寸晶圓
●按照產(chǎn)線全自動量測性能設(shè)計,測試效率高
●單/雙探頭配置,適合不同應(yīng)用場景
●可選配SECS/GEM廠務(wù)通訊協(xié)議
●符合ASTM and JIS 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

全自動四探針方塊電阻測試系統(tǒng)

型號

SR8/SR12

樣品尺寸

Circle>  150mm(6inch),200mm(8inch),300mm(12 inch)

Square> 730x920mm or customer design

測量范圍

[R] 1μ~3M Ω?cm

[RS] 5m~10M Ω/sq

Loadport

/雙 port

探頭

/雙探頭

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTM and JIS

通訊接口

SECS/GEM

功能配置

Clean pad,E1/E2相機(jī),溫度卡盤,晶圓厚度測量等



暫無數(shù)據(jù)

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