霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)
產(chǎn)品概要
霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)是集成Keithley2400/2600系列高精度源表和Semishare polaris高低溫平臺，采用范德堡爾法則設(shè)計，應(yīng)用于高精度的測量半導(dǎo)體材料的載流子類型（P型/N型）、載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等參數(shù)，能夠適用于Si、SiGe、SiC、GaAs、InGaAs、InP、GaN等半導(dǎo)體材料。
基本信息
| 產(chǎn)品型號 | HALL | 工作環(huán)境 | Windows98/ME/2000/NT/XP環(huán)境下 |
| 電力需求 | / | 操控方式 | / |
| 產(chǎn)品尺寸 | / | 設(shè)備重量 | / |
應(yīng)用方向
霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)是一款應(yīng)用于各種半導(dǎo)體材料高精度測量的軟件集成系統(tǒng)。
技術(shù)特點
產(chǎn)品特點
●業(yè)界領(lǐng)先的keithley測試平臺
●超高精度源表，實現(xiàn)精準測量
●模塊化設(shè)計，性能穩(wěn)定維護簡便
●豐富的軟件功能，操作便捷靈活
●可視化界面，數(shù)據(jù)分析清晰明了
●高低溫變溫環(huán)境，有效實現(xiàn)可靠性測試
