我們的網(wǎng)站使用由我們和第三方提供的 cookies。部分cookies是網(wǎng)站運營所必需的，而其他 cookies您可以隨時調(diào)整，特別是那些有助于我們了解網(wǎng)站性能、為您提供社交媒體功能、通過相關內(nèi)容為您帶來更好的體驗和廣告宣傳的cookies...。
我接受
測試技術
專利類型：發(fā)明專利
專利號：2023104358611
Special ConditionsTM技術，通過設置真空腔、防輻射屏等結構，有效的營造一個集成高溫、低溫、真空等測試環(huán)境，為生產(chǎn)出來的半導體器件提供穩(wěn)定的測試環(huán)境，通過觀察孔可視化調(diào)節(jié)真空倉的真空狀態(tài)及腔體溫度提高檢測結果的精確程度。
