探針
規(guī)格/尺寸
ST 系列硬針
規(guī)格：ST
尺寸：硬針鎢材質(zhì)
特點：ST系列硬針是0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑，長度為1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點測和線路點測。 ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果選擇鍍鎳則型號后面增加“NP”
開爾文探針
規(guī)格：測試頻率150MHz，漏電優(yōu)于10fA，電容<10fF
尺寸：常規(guī)
特點：適用于小信號測試。APT開爾文探針 APT開爾文探針適用于四線法測試，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響，保證小電阻的測試準(zhǔn)確性。 另外，一些高頻測試，比如150M左右，也可以采用這個。
大電流分流探針HC
規(guī)格：單根分流針可達(dá)5A直流能力，50A脈沖測試能力
尺寸：針數(shù)可定制
特點：適用于大電流場景，可以更好的接觸樣品
T-4 系列軟針
規(guī)格：T-4
尺寸：軟針
特點：T-4 系列軟針較多的應(yīng)用于點測集成電路的線路，電極，或者FIB(聚焦離子束) 制作的mini電極。 T-4系列軟針的結(jié)構(gòu)采用不同直徑鎢材質(zhì)針須焊接于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。其中T-4-10和T-4-22兩款是客戶反饋比較有優(yōu)勢的型號，因為其針須直徑較細(xì)，具有良好的彎曲彈性，能夠極大的減少對芯片電極的損害，在部分震動環(huán)境下面也能夠保證和電極的良好接觸。 T-4 軟針不建議在敏感節(jié)點使用，因為會產(chǎn)生電容負(fù)載的問題，在此環(huán)境下，建議使用高阻抗Picoprobes系列
附件
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