為期三天的第二十五屆中國(guó)國(guó)際光電博覽會(huì)，已于9月13日，在深圳寶安國(guó)際會(huì)展中心圓滿落幕。森美協(xié)爾攜先進(jìn)晶圓測(cè)試方案閃耀亮相，吸引了眾多業(yè)界同仁與客戶的關(guān)注和支持。本次參展，我們展示的明星產(chǎn)品有：A系列全自動(dòng)探針臺(tái)、X系列半自動(dòng)探針臺(tái)、H系列手動(dòng)探針臺(tái)。（點(diǎn)擊下方視頻觀看詳情內(nèi)容）
SEMISHARE A系列是一款高精度的全自動(dòng)晶圓探針臺(tái)，綜合扎針精度可達(dá)±2μm。主要用于量產(chǎn)型WAT測(cè)試和CP測(cè)試，廣泛應(yīng)用于存儲(chǔ)器、SOC、數(shù)字電路、模擬電路、功率器件、射頻器件以及分立器件等多種晶圓測(cè)試。
我們也支持特殊定制，像在板級(jí)封裝、frame晶圓測(cè)試、雙port測(cè)試、電動(dòng)針座測(cè)試、四線法測(cè)試等特殊應(yīng)用方面，我們都有成熟的成功案例。
《森美協(xié)爾光博會(huì)訪談》X系列半自動(dòng)探針臺(tái)、H系列手動(dòng)探針臺(tái)（下集）
X系列是一款集成電學(xué)、光波、微波等測(cè)試功能的半自動(dòng)晶圓探針臺(tái)，移動(dòng)精度可達(dá)±1μm，可提供多種測(cè)試環(huán)境，兼具靈活性和操作便利性，特別適合于實(shí)驗(yàn)室和中小型生產(chǎn)環(huán)境。支持多種應(yīng)用測(cè)試，如直流參數(shù)測(cè)試、大功率器件測(cè)試，射頻測(cè)試，光電測(cè)試，失效分析測(cè)試，1/f噪聲測(cè)試，硅光測(cè)試、WLR可靠性測(cè)試、VCSEL測(cè)試、藍(lán)膜測(cè)試等。
針對(duì)科研型的客戶，H系列手動(dòng)晶圓探針臺(tái)具有優(yōu)異的機(jī)械性能和的測(cè)試功能，其卡盤移動(dòng)技術(shù)，可滿足客戶對(duì)整片晶圓高效測(cè)試的需求，無牙螺母驅(qū)動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，可高速定位并兼容精確微調(diào),精度可至 1μm。
針對(duì)其它復(fù)雜應(yīng)用環(huán)境，如高低溫，電磁干擾，超導(dǎo)材料測(cè)試等，我們有高低溫探針臺(tái)、真空高低溫探針臺(tái)等豐富的多樣化產(chǎn)品，歡迎大家與我們交流探討！
圓滿舉行，征途再續(xù)！
在此，我們衷心感謝每一位蒞臨展位的客戶與合作伙伴，感謝您對(duì)森美協(xié)爾的信任與支持！您的每一次交流、每一聲認(rèn)可，都是我們不斷前行的動(dòng)力。
未來，森美協(xié)爾將繼續(xù)秉持創(chuàng)新精神，以高精度、高效率、高穩(wěn)定的先進(jìn)晶圓探針臺(tái)整體測(cè)試方案，助力行業(yè)發(fā)展，降低制造成本。我們的征途永不止步，期待在未來與您攜手同行，共同見證更多精彩瞬間！
