11月12日，德國半導體展覽會SEMICON Europa 2024在慕尼黑盛大啟幕。森美協(xié)尓作為先進晶圓探針臺制造商參展，全球首發(fā)V系列新一代高性能探針臺，用成果展示了晶圓測試領域的無限創(chuàng)新可能，也為不斷變化的半導體測試市場需求作出了有力響應。
森美協(xié)爾CEO劉世文先生攜頂尖工程師團隊亮相展會現(xiàn)場，讓客戶沉浸式體驗森美協(xié)爾前沿晶圓測試技術，共同探討行業(yè)洞見。展位人流絡繹不絕，V系列探針臺一經(jīng)亮相就憑借其高測試靈活性，優(yōu)異電學測試精度，集成工業(yè)美學的外觀和緊湊型尺寸等核心性能，贏得了眾多專業(yè)人士的高度評價和青睞，積極反饋不斷，現(xiàn)場預售火熱開啟中。
森美協(xié)爾新一代高性能V系列探針臺
隨著半導體技術向更精細、更復雜方向發(fā)展，科研機構(gòu)對于多樣化測試需求不斷增加，半導體封裝測試廠商也面臨提升效率與降低成本的挑戰(zhàn)。森美協(xié)爾V系列探針臺不僅繼承了明星產(chǎn)品X系列半自動探針臺的功能與操作性，也支持加裝loader，實現(xiàn)手動與自動晶圓上片自由切換，賦予科研機構(gòu)及半導體封裝測試廠商更高的測試靈活性，輕松挑戰(zhàn)復雜多變的測試任務。半導體參數(shù)測試對于低漏電流的要求非常高，低漏電流測試能力直接關系到半導體器件的質(zhì)量和可靠性，森美協(xié)爾V系列卡盤漏電流可達400fA以內(nèi)，使得系統(tǒng)能夠測量更低級別的漏電流參數(shù)。
（V8卡盤漏電流測試結(jié)果）
在外觀方面，V系列探針臺相比X系列產(chǎn)品實現(xiàn)了重大突破。它的體積和重量縮減至原來的二分之一，緊湊的設計大大減少了占地面積。這一改進無論是在空間有限的科研實驗室，還是布局緊湊的生產(chǎn)車間，它都能游刃有余地安置，完美契合現(xiàn)代半導體行業(yè)對于空間利用的高要求，幫助企業(yè)實現(xiàn)降本增效。我們的展位號：C2335，展館：Trade Fair Center Messe München，精彩仍在繼續(xù)，不容錯過！? 最后三天，誠邀您前來我司展位交流探討，我們可免費提供展會觀光門票（價值€44），如有需求，請聯(lián)系與您對接的森美協(xié)爾sales團隊，讓我們一起鏈接世界，共享半導體領域的創(chuàng)新成果，共創(chuàng)未來！
